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簡(jiǎn)要描述：DXR500L 靜態(tài)數(shù)字探測(cè)器陣列能夠提供不受碘化銫典型滯后限制的碘化銫探測(cè)器優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量。為工業(yè)用途設(shè)計(jì), DXR500L 在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境下提供高質(zhì)量的圖像。 DXR500L 易于檢測(cè)出細(xì)微的缺陷。 利用耐久™ 技術(shù)，專門開(kāi)發(fā)，以減少輻射損傷并大限度地節(jié)約成本。 GE的探測(cè)器包括一個(gè)溫度控制器，允許更長(zhǎng)的校準(zhǔn)間隔，并取得快速，一致的圖像。 DXR500L 有效地減少采集時(shí)間以快速提供檢測(cè)
產(chǎn)品型號(hào)：DXR500L廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-07-07訪 問(wèn) 量：823產(chǎn)品分類
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DXR500L 靜態(tài)數(shù)字探測(cè)器陣列能夠提供不受碘化銫典型滯后限制的碘化銫探測(cè)器優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量。為工業(yè)用途設(shè)計(jì), DXR500L 在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境下提供高質(zhì)量的圖像。 DXR500L 易于檢測(cè)出細(xì)微的缺陷。 利用耐久™ 技術(shù)，專門開(kāi)發(fā)，以減少輻射損傷并大限度地節(jié)約成本。 GE的探測(cè)器包括一個(gè)溫度控制器，允許更長(zhǎng)的校準(zhǔn)間隔，并取得快速，一致的圖像。 DXR500L 有效地減少采集時(shí)間以快速提供檢測(cè)結(jié)果
DXR500L 靜態(tài)數(shù)字探測(cè)器陣列
特色：
主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
| 探測(cè)器表征圖 按照ASTM E2507-07“數(shù)字探測(cè)器陣列制造特性的標(biāo)準(zhǔn)”。繪制的探測(cè)器特征圖。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采集和報(bào)告數(shù)據(jù)的方法，從而確保DDA的直接比較結(jié)果的客觀性。該標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)還為不同用途的探測(cè)器正確選擇提供了指導(dǎo)。 根據(jù)ASTM E2597 – 07文件給出的七個(gè)定義中的一個(gè)或多個(gè)可以確定不良像素。通過(guò)GE的軟件從鄰近好像素采集數(shù)據(jù)可以校正不良像素。 |
上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測(cè)厚儀：（27MG超聲波測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀、DM5E超聲波測(cè)厚儀、CL5超聲波測(cè)厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀，ETG-100電磁高溫測(cè)厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計(jì)；DR平板探測(cè)器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測(cè)器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表
應(yīng)用：
航天熔模鑄造件
工業(yè)燃?xì)廨啓C(jī)鑄件
精密鑄件
測(cè)量
材料科學(xué)/地質(zhì)學(xué)
規(guī)格：
檢測(cè)器
| 平板型 | 非晶硅 |
|---|---|
| 閃爍材料 | 碘化銫 |
| 有效面積（近似值） | 307 x 240 毫米 (12 x 9 英寸) |
| 圖像格式 | 3072x2400 |
| 像素間距 | 100µm |
| A/D 轉(zhuǎn)換 | 14位 |
| 小曝光時(shí)間 | 375毫秒 |
| 接口 | 千兆以太網(wǎng) |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 10,000:1 |
| 尺寸 | 356 x 360 x 122.5毫米 |
| 重量 | 15 kg (33磅) |
| 工作溫度 | 10° 到 35° C (50° 到 95° F) |
| 工作濕度 | 10-90% 非冷凝 |
電源
| 電壓： | 100-240伏, 50-60赫茲 |
|---|---|
| 尺寸 | 163 x 287 x 56 毫米 (6 x 11 x 2 英寸) |
| 重量 | 3 千克(7磅) |
溫度控制器
| 電壓： | 100-240伏, 50-60赫茲 |
|---|---|
| 尺寸 | 220 x 286 x 382 mm (9 x 11 x 15英寸) |
| 重量 | 8 千克(19磅) |
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