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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測(cè)設(shè)備 > 探傷儀 > OmniScan ECAOmniScan ECA渦流陣列探傷儀
簡(jiǎn)要描述：OmniScan ECA渦流陣列探傷儀以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。
產(chǎn)品型號(hào)：OmniScan ECA廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-07-06訪 問 量：948產(chǎn)品分類
Product classification詳細(xì)介紹
OmniScan ECA渦流陣列探傷儀
渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢(shì)
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：
檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。
減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
*地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。
改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
OmniScan ECA渦流陣列探傷儀
| 渦流模塊的技術(shù)規(guī)格 | |
| 外型尺寸 （寬 x 高 x 厚） | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 （9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） |
| 重量 | 1.2公斤（2.6磅） |
| 接口 | 1個(gè)OmniScan®渦流陣列探頭接口 1個(gè)19針Fischer®渦流探頭接口 1個(gè)BNC接口 |
| 通道數(shù)量 | 32個(gè)通道，帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 |
| 探頭識(shí)別 | 自動(dòng)探頭識(shí)別和設(shè)置 |
| 發(fā)生器 | |
| 發(fā)生器數(shù)量 | 1個(gè)（帶內(nèi)置電子參考） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，10 Ω |
| 工作頻率 | 20 Hz～6 MHz |
| 帶寬 | 8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時(shí)隙成反比例關(guān)系，并通過儀器在多路模式下設(shè)定。 |
| 接收器 | |
| 接收器數(shù)量 | 1個(gè)～4個(gè) |
| 大輸入信號(hào) | 1 Vp-p |
| 增益 | 28 dB～68 dB |
| 內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 | |
| 發(fā)生器數(shù)量 | 32個(gè)（８?jìng)€(gè)時(shí)隙時(shí)，4個(gè)發(fā)生器同時(shí)工作；使用外部多路轉(zhuǎn)換器時(shí)，多達(dá)64個(gè)） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，50 Ω |
| 接收器數(shù)量 | 4個(gè)差分接收器（每個(gè)8時(shí)隙） |
| 大輸入信號(hào) | 1 Vp-p |
| 數(shù)據(jù)采集 | |
| 數(shù)字化頻率 | 40 MHz |
| 采集速率 | 1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發(fā)模式的延遲設(shè)定所限制。 |
| Ａ/D分辨率 | 16比特 |
| 數(shù)據(jù)處理 | |
| 相位旋轉(zhuǎn) | 0°～360°，步距為0.1° |
| 濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調(diào)）、中值濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化）、平均濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化 ） |
| 通道處理 | 混合 |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | |
| 大文件容量 | 取決于內(nèi)部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
| 數(shù)據(jù)同步 | |
| 按內(nèi)部時(shí)鐘 | 1 Hz～15 kHz（單線圈） |
| 外部步速 | 有 |
| 按編碼器 | 單軸或雙軸 |
| 報(bào)警器 | |
| 報(bào)警器數(shù)量 | 3個(gè) |
| 報(bào)警區(qū)域形狀 | 扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形 |
| 輸出類型 | 視頻、音頻以及TTL信號(hào) |
| 模擬輸出 | 1個(gè)（X或Y） |
主要應(yīng)用： 緊固件表層裂紋檢測(cè)
制造商用型和軍用型航天飛機(jī)時(shí)，要使用成千上萬個(gè)緊固件將搭接的鋁制板材連接在一起。下層鋁板上的疲勞裂紋經(jīng)常會(huì)被一層蒙皮隱藏起來。要確保任何航天飛機(jī)的完好無損性，在定期的在役檢測(cè)過程中，必須探測(cè)到這些隱藏的缺陷，并進(jìn)行修復(fù)。
奧林巴斯開發(fā)了一項(xiàng)用于對(duì)緊固件和近表層裂紋進(jìn)行檢測(cè)的創(chuàng)新型技術(shù)，作為航空航天系列解決方案的一部分。這個(gè)方案將渦流技術(shù)應(yīng)用到一個(gè)尚未探知的領(lǐng)域。這個(gè)新技術(shù)可顯示飛機(jī)一層鋁制蒙皮下裂紋的極為清晰的圖像，可為用戶有效提供可靠的檢測(cè)結(jié)果。
可替代磁光成像（MOI）。
32個(gè)線圈探頭可覆蓋寬大的范圍。
無需去除漆層；簡(jiǎn)化了操作過程，節(jié)省了大量時(shí)間。
使用持續(xù)模式，掃描圖像可以不間斷地顯示檢測(cè)結(jié)果。
數(shù)據(jù)記錄功能有助于制作專業(yè)性報(bào)告。
對(duì)探頭的放置要求不如滑動(dòng)式探頭那么嚴(yán)格。
經(jīng)過優(yōu)化后，可以探測(cè)商用型和軍用型飛機(jī)鋁制板材之間的典型近表層裂紋。
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